采用射頻磁控濺射技術(shù),室溫下在玻璃襯底上制備了Al、Sn共摻雜ZnO導(dǎo)電薄膜(ZATO),利用X射線衍射儀(XRD)、原子力顯微鏡(AFM)、紫外-可見光分光光度計(jì)、四探針測(cè)試儀表征了薄膜的結(jié)構(gòu)與光電性能。實(shí)驗(yàn)結(jié)果表明,ZATO薄膜具有(002)擇優(yōu)取向,當(dāng)濺射功率為120W 時(shí),ZATO薄膜在可見光范圍的平均透過率大于88%,電阻率為7.46×10-3Ω·cm。
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作者
胡仁杰;李合琴;李輝;張?jiān)?謝炳超
期刊
合肥工業(yè)大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)
年份