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nanosensors原子力探針及標(biāo)準(zhǔn)樣品

NanoSensors原子力探針/標(biāo)樣

NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家Oladf Wolter博士于1991年創(chuàng)建。NanoSensors公司是世界上重要的面對(duì)全球提供高品質(zhì)原子力AFM探針的廠家。

NanoSensors出產(chǎn)的針尖曲率半徑小于10nm的原子力AFM硅探針,對(duì)世界上許多重大的科學(xué)成果貢獻(xiàn)良多。在多年間,NanoSensors不斷創(chuàng)新技術(shù),擴(kuò)展了AFM探針的種類,并獲得多個(gè)國(guó)際獎(jiǎng)項(xiàng)。

2002年,NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團(tuán),繼續(xù)堅(jiān)持為全球研究者提供最高品質(zhì)的原子力探針。

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NanoSensors常用的產(chǎn)品

PPP-NCHR

PPP-NCHR原子力探針

輕敲模式/非接觸模式探針,每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂,共振頻率330kHz,彈性系數(shù)42N/m,針尖曲率半徑<10nm,背面鍍鋁反射層。

PPP-CONTR

PPP-CONTR原子力探針

接觸模式探針,每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂,共振頻率13kHz,彈性系數(shù)0.2N/m,針尖曲率半徑<10nm,背面鍍鋁反射層。

PPP-MFMR

PPP-MFMR原子力磁性探針

用于磁力顯微鏡測(cè)量,每個(gè)基片有一個(gè)長(zhǎng)方形懸臂,共振頻率75kHz,彈性系數(shù)2.8N/m,針尖曲率半徑<50nm,針尖鍍硬磁性材料鍍層。

NanoSensors產(chǎn)品概覽

PointProbe Plus (PPP)系列——常用探針

PPP系列原子力探針

PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針,適用于大部分的應(yīng)用及商品化的AFM。
PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm,可實(shí)現(xiàn)高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。

SuperSharp Silicon (SSS)系列——超尖探針

SSS超尖原子力探針

SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術(shù)生產(chǎn),專門為超高分辨的成像所設(shè)計(jì)。
SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm,實(shí)現(xiàn)超高分辨率的應(yīng)用。整個(gè)系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。

High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列——高長(zhǎng)徑比探針

AR高長(zhǎng)徑比原子力探針

AR系列探針專門為測(cè)量具有大長(zhǎng)徑比或垂直臺(tái)階結(jié)構(gòu)的樣品而設(shè)計(jì)。
AR系列探針具有接近垂直的針尖,總體針尖長(zhǎng)度達(dá)到10-15um,針尖的曲率半徑小于5度(AR10小于2.8度)。

Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列——金剛石鍍層探針

金剛石鍍層原子力探針

DT(金剛石)和CDT(導(dǎo)電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況,同樣也應(yīng)用于摩擦力測(cè)量、樣品彈性測(cè)量等。

MFM——磁力顯微鏡探針

磁力顯微鏡探針

多種規(guī)格(硬磁或軟磁)的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應(yīng)用而設(shè)計(jì)。所有探針的磁性鍍層,均具有優(yōu)越的穩(wěn)定性。

Carbon Nanotube (CNT)系列——碳納米管探針

碳納米管原子力探針

Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應(yīng)用而設(shè)計(jì)的。
碳納米管探針使用化學(xué)沉積的方法,在PPP系列針尖的最尖端處,生長(zhǎng)出碳納米管,從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長(zhǎng)徑比及極佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中,能獲得最高的分辨率。

AdvancedTEC (ATEC)系列——可視化探針

ATEC'可視化原子力探針

AdvancedTEC系列探針,在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種獨(dú)有的技術(shù)使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針,從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。

Plateau (PL)系列

Plateau系列原子力探針

Plateau系列探針,使用離子束切割技術(shù),將傳統(tǒng)錐形的針尖弄鈍,在針尖處形成一個(gè)直徑為1.8μm的圓形平臺(tái),為用戶的特殊應(yīng)用提供了個(gè)性化的探針。

Transfer Standards /Calibration Standards 標(biāo)準(zhǔn)樣品

原子力標(biāo)準(zhǔn)樣品

NanoSensors提供的高精度標(biāo)準(zhǔn)樣品包括:

  1. 二維正交標(biāo)準(zhǔn)樣品:周期分別為100nm、200nm和300nm。
  2. 高度標(biāo)準(zhǔn)樣品:臺(tái)階高度為8nm。
  3. 粗糙度標(biāo)準(zhǔn)樣品:100um以內(nèi)的峰峰值小于10nm。  

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