SPM Console在線控制軟件
- 兼容Windows 11/10/8/7/Vista/XP/NT/2000/ME/9x全系列操作系統(tǒng)
- 支持原子力顯微鏡（AFM）(包括接觸/輕敲/相移成像/抬起模式)、橫向力/摩擦力顯微鏡（LFM）、導電原子力顯微鏡（C-AFM）、磁力顯微鏡（MFM）、靜電力顯微鏡（EFM）、力調(diào)制模式（FMM）、壓電響應力顯微鏡（PFM）、掃描開爾文探針顯微鏡（SKPM）、掃描探針聲學顯微鏡（SPAM）、掃描隧道顯微鏡（STM）等功能
- 具有距離曲線（Force Curve）、振幅/距離曲線（Amplitude Curve）懸臂共振特性曲線（Q Curve）、相位曲線（Phase Curve）、電流偏壓曲線（I/V）、電流距離曲線（I/Z）測量分析
- 具有掃描隧道顯微鏡（STM）表面電流密度測量分析
- 系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)智能識別和控制
- 還具備實時三維顯示功能，掃描檢測過程中實時同步顯示樣品表面直觀的三維形貌，無需事后用處理軟件進行三維重建
- 具備實時定量分析功能，用戶可在掃描測試進程中，即時對圖像進行定量分析，如通過指定剖面線隨時獲得樣品起伏、距離、周期等結構參數(shù)
- 全部工作環(huán)境參數(shù)與檢測結果同步保存，用戶對圖像進行分析處理時可查看完整的工作條件和參數(shù)
- 掃描圖像亮度、對比度調(diào)整后，自動整體刷新
- 多種樣品傾斜度實時校正功能
- 軟件控制樣品向指定方向移動一步或多步，精度達每步100nm
- 方便的鼠標控制掃描區(qū)域平移、剪切功能
- 具有數(shù)據(jù)導出功能，用戶可取得原始數(shù)據(jù)
- 支持雙顯示器操作界面，方便進行參數(shù)調(diào)整及圖像觀測
- 支持圖形刻蝕和矢量掃描模式的納米加工技術
- 具備超媒體用戶界面的納米操縱接口
具備實時三維顯示功能，可在樣品檢測過程中實時同步顯示樣品表面直觀的三維形貌，無需在檢測完成再借助數(shù)據(jù)處理軟件進行三維重建
具備實時定量分析功能，用戶可在掃描測試進程中，即時對圖像進行定量分析，如通過指定剖面線隨時獲得樣品起伏、距離、周期等結構參數(shù)，用戶能在檢測過程中即時獲得樣品定量數(shù)據(jù)，無需在檢測完成再借助數(shù)據(jù)處理軟件進行分析
用戶可以通過TCP/IP網(wǎng)絡，在本地計算機或遠程計算機上運行本軟件，實現(xiàn)對儀器的實時控制
軟件具有在線實時的原子力顯微鏡操作多媒體幫助
自帶功能強大的矢量掃描腳本編譯器，用戶可以方便靈活的對探針行為進行直接操控
無需重啟系統(tǒng)或退出軟件，用戶在操作過程中可隨時在多語言版本間自由切換
