SPM Console在線控制軟件
- 兼容Windows 11/10/8/7/Vista/XP/NT/2000/ME/9x全系列操作系統(tǒng)
- 支持原子力顯微鏡(AFM)(包括接觸/輕敲/相移成像/抬起模式)、橫向力/摩擦力顯微鏡(LFM)、導(dǎo)電原子力顯微鏡(C-AFM)、磁力顯微鏡(MFM)、靜電力顯微鏡(EFM)、力調(diào)制模式(FMM)、壓電響應(yīng)力顯微鏡(PFM)、掃描開(kāi)爾文探針顯微鏡(SKPM)、掃描探針聲學(xué)顯微鏡(SPAM)、掃描隧道顯微鏡(STM)等功能
- 具有距離曲線(Force Curve)、振幅/距離曲線(Amplitude Curve)懸臂共振特性曲線(Q Curve)、相位曲線(Phase Curve)、電流偏壓曲線(I/V)、電流距離曲線(I/Z)測(cè)量分析
- 具有掃描隧道顯微鏡(STM)表面電流密度測(cè)量分析
- 系統(tǒng)狀態(tài)、儀器類型、掃描器和探針架參數(shù)智能識(shí)別和控制
- 還具備實(shí)時(shí)三維顯示功能,掃描檢測(cè)過(guò)程中實(shí)時(shí)同步顯示樣品表面直觀的三維形貌,無(wú)需事后用處理軟件進(jìn)行三維重建
- 具備實(shí)時(shí)定量分析功能,用戶可在掃描測(cè)試進(jìn)程中,即時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行定量分析,如通過(guò)指定剖面線隨時(shí)獲得樣品起伏、距離、周期等結(jié)構(gòu)參數(shù)
- 全部工作環(huán)境參數(shù)與檢測(cè)結(jié)果同步保存,用戶對(duì)圖像進(jìn)行分析處理時(shí)可查看完整的工作條件和參數(shù)
- 掃描圖像亮度、對(duì)比度調(diào)整后,自動(dòng)整體刷新
- 多種樣品傾斜度實(shí)時(shí)校正功能
- 軟件控制樣品向指定方向移動(dòng)一步或多步,精度達(dá)每步100nm
- 方便的鼠標(biāo)控制掃描區(qū)域平移、剪切功能
- 具有數(shù)據(jù)導(dǎo)出功能,用戶可取得原始數(shù)據(jù)
- 支持雙顯示器操作界面,方便進(jìn)行參數(shù)調(diào)整及圖像觀測(cè)
- 支持圖形刻蝕和矢量掃描模式的納米加工技術(shù)
- 具備超媒體用戶界面的納米操縱接口