導(dǎo)電原子力顯微鏡
? ? ? ?導(dǎo)電原子力顯微鏡（Conductive Atomic Force Microscope，C-AFM）是原子力顯微鏡的一種功能擴(kuò)展。
在接觸模式下，原子力顯微鏡的探針針尖以樣品存在歐姆接觸，如果我們采用導(dǎo)電探針，并在樣品和探針間加一偏壓，在掃描成像的過程中，實時地檢測探針和樣品間的電流變化，就可以得到樣品不同區(qū)域的電導(dǎo)信息。
導(dǎo)電原子力顯微鏡工作原理示意圖
? ? ? ?采用導(dǎo)電原子力顯微鏡，通過對被測樣品表面進(jìn)行一次掃描成像，即可同時獲得樣品的表面高低形貌圖和電流大小分布圖像，從而得到樣品表面形貌和導(dǎo)電性分布及兩者之間的對應(yīng)關(guān)系。
? ? ? ?我們還可以對施加在探針和樣品間的偏壓進(jìn)行調(diào)制，實時獲得到樣品表面局域I/V、dI/dV等信息，也可以在掃描過程中，選定樣品表面特定的測試點，控制針尖精確定位到該點進(jìn)行電學(xué)傳輸性質(zhì)、表面電流密度譜等局域電學(xué)測量。
本原導(dǎo)電原子力顯微鏡的石墨晶體測試結(jié)果（20um）
上：形貌圖，右：電流分布圖
? ? ? ?下圖為利用本原導(dǎo)電原子力顯微鏡研究循環(huán)載荷下天青素單層膜的動態(tài)電導(dǎo)響應(yīng)的結(jié)果：
金基底的天青素單分子層原子力顯微鏡測試結(jié)果（測試分子層形貌及厚度）
左：天青素單分子層形貌；中：采用AFM針尖刮除天青素分子層的局部形貌；右：刮除處刨面圖
