今天本原納米儀器的小編給大家介紹的是關(guān)于磁力顯微鏡的相關(guān)知識，希望通過下述的介紹能給大家?guī)韼椭?，那么接下來就跟著小編一起看下吧?/p>
磁力顯微鏡(MFM)選用的是磁性探針對樣品表面掃描檢測，檢測的時候，對樣品表面的每一行都進行兩次掃描：第一次掃描選用的是輕敲模式，得到樣品在這一行的高低起伏然后記錄下來；隨后選擇的是抬起模式，讓磁性探針抬起一定的高度(一般在十至兩百納米之間)，并且按照樣品表面起伏軌跡進行第二次掃描，因為探針被抬起并且按照樣品表面起伏軌跡掃描，所以在第二次掃描過程當中針尖不接觸樣品表面（不存在針尖和樣品間原子的短程斥力）并且和它保持恒定距離（消除了樣品表面形貌的影響），磁性探針由于受到的長程磁力的作用從而引起的振幅與相位變化。所以，將第二次掃描中探針的振幅還有相位變化記錄下來，就可以得到樣品表面漏磁場的精細梯度，然后知道樣品的磁疇結(jié)構(gòu)。一通常來講，相對于磁性探針的振幅，它的振動相位對樣品表面磁場變化更加敏感。所以，相移成像技術(shù)是磁力顯微鏡的重要方法，它的結(jié)果分辨率更高、細節(jié)也更加豐富。
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