今天本原納米儀器的小編給大家介紹的是關(guān)于磁力顯微鏡的相關(guān)知識(shí)，希望通過(guò)下述的介紹能給大家?guī)?lái)幫助，那么接下來(lái)就跟著小編一起看下吧。
磁力顯微鏡(MFM)選用的是磁性探針對(duì)樣品表面掃描檢測(cè)，檢測(cè)的時(shí)候，對(duì)樣品表面的每一行都進(jìn)行兩次掃描：第一次掃描選用的是輕敲模式，得到樣品在這一行的高低起伏然后記錄下來(lái)；隨后選擇的是抬起模式，讓磁性探針抬起一定的高度(一般在十至兩百納米之間)，并且按照樣品表面起伏軌跡進(jìn)行第二次掃描，因?yàn)樘结槺惶鸩⑶野凑諛悠繁砻嫫鸱壽E掃描，所以在第二次掃描過(guò)程當(dāng)中針尖不接觸樣品表面（不存在針尖和樣品間原子的短程斥力）并且和它保持恒定距離（消除了樣品表面形貌的影響），磁性探針由于受到的長(zhǎng)程磁力的作用從而引起的振幅與相位變化。所以，將第二次掃描中探針的振幅還有相位變化記錄下來(lái)，就可以得到樣品表面漏磁場(chǎng)的精細(xì)梯度，然后知道樣品的磁疇結(jié)構(gòu)。一通常來(lái)講，相對(duì)于磁性探針的振幅，它的振動(dòng)相位對(duì)樣品表面磁場(chǎng)變化更加敏感。所以，相移成像技術(shù)是磁力顯微鏡的重要方法，它的結(jié)果分辨率更高、細(xì)節(jié)也更加豐富。
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