?用常壓金屬有機化學氣相外延方法在Ni/Si(111)模板上生長ZnO薄膜,研究了ZnO低溫緩沖層的厚度(50h,300h)對薄膜性能的影響。采用原子力顯微鏡,X射線衍射和光致發(fā)光光譜儀對這些樣品進行分析。結(jié)果表明:緩沖層的厚度對zno外延薄膜的表面形貌、晶體結(jié)構及發(fā)光性能都有較大影響。在50h~100A低溫緩沖層上生長的ZnO外延膜,晶粒尺寸大小均勻,發(fā)光和結(jié)晶性能良好。
作者
方芳,王立,方文卿,蒲勇,鄭暢達,蘇宏波,江風益.
期刊
南昌大學學報(理科版)
年份