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?用常壓金屬有機(jī)化學(xué)氣相外延方法在Ni/Si(111)模板上生長ZnO薄膜,研究了ZnO低溫緩沖層的厚度(50h,300h)對薄膜性能的影響。采用原子力顯微鏡,X射線衍射和光致發(fā)光光譜儀對這些樣品進(jìn)行分析。結(jié)果表明:緩沖層的厚度對zno外延薄膜的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)及發(fā)光性能都有較大影響。在50h~100A低溫緩沖層上生長的ZnO外延膜,晶粒尺寸大小均勻,發(fā)光和結(jié)晶性能良好。

作者

方芳,王立,方文卿,蒲勇,鄭暢達(dá),蘇宏波,江風(fēng)益.

期刊

南昌大學(xué)學(xué)報(理科版)

年份