靜電力顯微鏡與磁力顯微鏡（MFM）相似卻又不同的是，靜電力顯微鏡主要是可以檢測(cè)出樣品的表面電勢(shì)、電場(chǎng)分布、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等相關(guān)信息。具體使用原理是什么呢？本原的小編和大家分享一下吧~具體內(nèi)容如下：
靜電力顯微鏡主要是利用測(cè)量探針與樣品的靜電之間相互作用，來(lái)表征樣品表面靜電勢(shì)能，電荷分布以及電荷輸運(yùn)的掃描探針顯微鏡。掃描式電場(chǎng)力顯微鏡利用提升操作功能，由于靜電作用屬于長(zhǎng)程作用力,因此利用靜電力顯微鏡研究樣品電特性采用Liftmode模式測(cè)量,以減小表面形貌的影響。每條掃描線都進(jìn)行兩次掃描:首先，形貌測(cè)量是采用輕敲模式獲得;然后針尖提起一定高度第二次掃描，掃描過(guò)程中保持針尖與樣品間距恒定來(lái)獲得電性質(zhì)。這種測(cè)量方式雖然將樣品形貌特征與電場(chǎng)梯度分離開來(lái)，但在納米級(jí)測(cè)量中，由于二次定位產(chǎn)生的誤差(非線性誤差)會(huì)嚴(yán)重影響測(cè)量結(jié)果,從而很難獲得真實(shí)的圖像信息。因此，利用靜電力顯微鏡一次掃描同時(shí)測(cè)量樣品表面形貌和樣品表面電性質(zhì)的技術(shù)受到了廣泛的重視。1990年,BDTeris等人利用EFM測(cè)量了絕緣體表面的局部電荷,并有效的降低了表面形貌對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響。
靜電力顯微鏡主要采用的是導(dǎo)電探針以抬起模式進(jìn)行掃描。
綜上所述就是廣州本原納米儀器有限公司的小編和大家分享的關(guān)于靜電力顯微鏡的使用原理，希望對(duì)大家有用。
