掃描探針顯微鏡簡稱SPM，工作原理是利用尖銳針尖與表面原子分子的相互作用來對高至原子分子進行分辨，即當針尖與試樣表面接近至納米尺度時形成各種相互作用物理局域場,通過檢測該場物理量而獲得樣品表面形貌。所以對于表面微觀結構性能狀態(tài)的觀察分析和相應操控，SPM已經是重要手段,但這主要決定因素還是在于探針的性質和結構操作對象以及環(huán)境等。下面本原的小編就和大家分享一下spm探針需要具備哪些要求。
一、尖銳程度極高，也就是尖尖端圓弧半徑小,最好是可以達到原子分子最級以適應高分辨成像要求；
二、適應性良好，探針材料結構形狀等要符合一定的機械物理和化學性能要求；
三、穩(wěn)定性以及可靠性要高，需適合長時間工作，檢測結果要有可重復性再現(xiàn)性；
四、探針制備應盡可能簡單可靠，容易形成有效的生產工藝,其結構性能希望能檢測或控制；
五、探針能進行功能組合，以適合不同測試目的或原位多種信息檢測需要。
探針制備的方法有很多種，有化學或電化學的膠蝕研磨拋光，機械式剪切，光學蝕刻方式以及受控爆裂、陰極濺射、離子銑削、火焰磨削、蝕刻沉積方式等，但隨著SPM應用的不斷更新發(fā)展，以及被探測對象的多樣化，對探針提出的要求也越來越高，因此探針制備新方法隨之不斷產生。
綜上所述就是廣州本原納米儀器有限公司的小編和大家的分享。
