掃描探針顯微鏡發(fā)展到現(xiàn)在已經(jīng)大體成熟，但仍然有很多需要完善的地方。比如在移動樣品的時候，因為對樣品掃描，檢測的面積并不大，而樣品在較大的范圍內(nèi)移動的時候測量的進度會較慢。同時，掃描探針顯微鏡的發(fā)展時間并不是很長，所以缺少了相關(guān)的方法標準及操作規(guī)范。
1、探針針尖
探針針尖的工藝研究探針的針尖對于掃描探針顯微鏡的分辨率非常重要。好的針尖設(shè)計不僅能夠提高其分辨率，對于整體的顯微鏡使用壽命的提高也起著很重要的作用。
2、提高獲得樣品表面圖像的時間
由于掃描探針顯微鏡是集掃描，數(shù)據(jù)收集，數(shù)據(jù)處理，計算，模擬為一體的結(jié)構(gòu)，所以從開始掃描到最終獲得圖像的時間還是較長的，未來可能會提高其顯示成像的時間。
3、偏置電壓的控制
在掃描探針顯微鏡內(nèi)，電壓過高電場的強度增大，能夠增強原子的遷移，然而場強過大的時候，針尖和樣品之間會產(chǎn)生復(fù)雜的化學(xué)反應(yīng)，不僅會對觀察的效果造成影響，還會使得原子的操縱過程變得復(fù)雜。
4、從圖像中去處儀器震蕩影響
探針的軌跡最終實際是樣品表面起伏輪廓與超出電子學(xué)反饋系統(tǒng)的附加擾動的疊加。程序本身從數(shù)據(jù)開始逆過程反映出樣品表面的情況這一過程是很難綜合考慮擾動情況的。所以從擾動本身出發(fā)盡量消除震動情況是很需要的。
5、接觸面的接觸距離
恰當?shù)慕佑|距離能夠提高掃描探針顯微鏡的分辨率，但是當接觸距離在到達某個值的時候，接觸面位置的原子會有突變，十分影響測量的結(jié)果。
以上就是今天本原納米儀器的小編為大家介紹的掃描探針顯微鏡的發(fā)展展望，希望能夠給大家?guī)硪恍椭胍私飧鄴呙杼结橈@微鏡的相關(guān)產(chǎn)品內(nèi)容，請點擊我們廣州本原納米儀器有限公司的官方網(wǎng)站查看。
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