今天主要為大家介紹下原子力顯微鏡的針尖技術(shù)，因其微懸臂和針尖是決定原子力顯微鏡靈敏度的關(guān)鍵，所以十分重要，下面我們一起來看一下吧。
探針是原子力顯微鏡的核心部件。目前，一般的探針式表面形貌測量儀垂直分辨率已經(jīng)達(dá)到0.1nm，因此足以檢測出物質(zhì)表面的微觀形貌。但是，探針針尖曲率半徑的大小將直接影響到測量的水平分辨率。當(dāng)樣品的尺寸大小跟探針針尖的曲率半徑大小差不多或者是更小的時(shí)候，會出現(xiàn)“擴(kuò)寬效應(yīng)”，也就是實(shí)際觀察得到的樣品寬度會偏大。這種誤差是因?yàn)獒樇膺叡谕瑯悠返南嗷プ饔靡约拔冶鄣氖芰ψ冃巍Ｒ恍┰恿︼@微鏡圖像的失真是因?yàn)獒樇馐艿搅宋廴?。一般的機(jī)械觸針是以金剛石為材料的，它最小的曲率半徑大約在20nm。而普通的原子力顯微鏡的探針材料是硅，氧化硅或者是氮化硅，其最小的曲率半徑可以達(dá)到10nm。因?yàn)榭赡苡小皵U(kuò)寬效應(yīng)”的存在，針尖技術(shù)的發(fā)展在原子力顯微鏡中就十分的重要。一個(gè)是發(fā)展制得更尖銳的探針，比如用電子沉積法制得的探針，其針尖曲率半徑可在5~10nm之間。其二是對探針進(jìn)行修飾，從而發(fā)展起針尖修飾技術(shù)。
探針針尖的幾何物理特性制約著針尖的敏感性以及樣品圖像的空間分辨率。所以針尖技術(shù)的發(fā)展有賴于對針尖進(jìn)行能動的，功能化的分子水平的設(shè)計(jì)。只有設(shè)計(jì)出更尖銳，更功能化的探針，改善原子力顯微鏡的力調(diào)制成像技術(shù)和相位成像技術(shù)的成像環(huán)境，同時(shí)改進(jìn)被測樣品的制備方法，才可以真正地提高樣品表面形貌圖像的質(zhì)量。
以上就是今天小編為大家分享的原子力顯微鏡的針尖技術(shù)，希望能夠給大家?guī)硪恍椭?，想要了解更多原子力顯微鏡的相關(guān)信息，請關(guān)注我們本原納米儀器的官方網(wǎng)站，我們下期再見。
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