? ? 原子力顯微鏡是通過探針與被檢測樣品直接微弱的相互作用力來獲得物質(zhì)表面形貌的信息。原子力顯微鏡除了導(dǎo)電樣品之外，還可以觀測非導(dǎo)電樣品的表面結(jié)構(gòu)。在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，可以分為三個部分，力檢測部分，位置檢測部分，反饋系統(tǒng)，今天小編主要為大家介紹下原子力顯微鏡的核心部分。
?? ?AFM關(guān)鍵部分是力敏感元件和力敏感檢測裝置。所以微懸臂和探針針尖是決定原子力顯微鏡靈敏度的核心。為了可以準確地反應(yīng)出樣品表面和針尖兩者間微弱的相互作用力的變化，得到更加真實的樣品表面形貌，提高原子力顯微鏡的靈敏度，對于AFM微懸臂的設(shè)計通常要求滿足以下的幾個條件。
?? ?①具有較低的力學(xué)彈性系數(shù)，使用很小的力就能夠產(chǎn)生可觀測的位移；
?? ?②具有較高的力學(xué)共振頻率；
?? ?③較高的橫向剛性，針尖和樣品表面的摩擦不會使其發(fā)生彎曲；
?? ?④微懸臂長度盡可能的短；
?? ?⑤微懸臂帶有能夠通過光學(xué)，電容或者隧道電流的方法檢測其動態(tài)位移的鏡子或者電極；
?? ?⑥針尖盡可能的尖銳。
?? ?以上就是今天小編分享的全部內(nèi)容了，希望能夠給大家?guī)硪恍椭胍私飧嘣恿︼@微鏡的相關(guān)信息，請關(guān)注本原納米的官方網(wǎng)站查看，我們下期再見。
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