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  磁力顯微鏡的重要日期有哪些?

  磁力顯微鏡的發(fā)展基于以下發(fā)明的推動:

  1.1982-掃描隧道顯微鏡(STM)

  探針與樣品之間的隧道電流被用作信號;

  探針與樣品一定都是導(dǎo)體。

  2.1986-原子力顯微鏡(AFM)

  探針與樣品之間的力(原子/靜電)可以通過一個靈敏的杠桿(懸臂)的偏轉(zhuǎn)檢測;

  懸臂探針一般懸掛在樣品相距幾十納米的上方。

  3.1987-磁力顯微鏡(MFM)

  源于原子力顯微鏡,探針與樣品之間的磁力可以測量;

  雜散磁場的圖像能夠通過磁化探針在樣品表面進行的光柵掃描獲得。

  磁力顯微鏡的結(jié)構(gòu)有什么?

  磁力顯微鏡的主要結(jié)構(gòu):壓電掃描儀

  在x,y和z方向上移動樣品。

  通過不同方向上的電極施加電壓。通常,每1到10nm1伏特。

  圖像通過在樣品表面進行緩慢的光柵掃描得以形成。

  掃描區(qū)域從幾個到200微米。

  成像時間從幾分鐘到30分鐘。

  根據(jù)懸臂材料的不同,懸臂恢復(fù)力常數(shù)從0.01到100N/m。

  磁性探針在靈敏的杠桿(懸臂)的一端,通常是涂油磁性材料的AFM探針。

  在過去,探針通過蝕刻鎳之類的磁性材料獲得。

  目前,探針(探針懸臂)通過結(jié)合微加工與光刻技術(shù)來制造。所以,更小的探針得以制造,而且具有更好的操控性。

  懸臂能夠由單晶硅,二氧化硅(SiO2),或者氮化硅(Si3N4)制造。氮化硅懸臂探針模塊通常更耐用,而且有更小的恢復(fù)力常數(shù)(k)。

  探針被一層很薄(<50nm)的磁性薄膜(比如鎳或鈷),一般具有高抗磁性,所以探針的磁性狀態(tài)(磁化強度M)不會在成像過程當中改變。

  探針懸臂模塊由共振頻率相近的壓電晶體以一般10K赫茲到1M赫茲的頻率驅(qū)動。

磁力顯微鏡