上期文章中納米儀器的小編已經(jīng)給大家介紹了關(guān)于掃描探針顯微鏡的應(yīng)用其中一部分，那么接下來我們繼續(xù)給大家介紹相關(guān)應(yīng)用，一起來看下吧。
任何事物都不是十全十美的一樣，掃描探針顯微鏡也有令人遺憾的地方。因?yàn)樗墓ぷ髟硎强刂凭哂幸欢ㄙ|(zhì)量的探針進(jìn)行掃描成像，所以掃描速度受到限制，測(cè)試效率比較其他顯微技術(shù)低；因?yàn)閴弘娦?yīng)在保障定位精度前提下運(yùn)動(dòng)范圍很?。ê茈y突破100μm量級(jí)），但是機(jī)械調(diào)節(jié)精度又沒有辦法與之銜接，因此不可以做到像電子顯微鏡的大范圍連續(xù)變焦，定位與尋找特征結(jié)構(gòu)比較困難；
掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮范圍比平面掃描范圍通常要小一個(gè)數(shù)量級(jí)，掃描的時(shí)候掃描器隨樣品表面起伏而伸縮，假如被測(cè)樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮范圍，那么就會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)無法正常甚至損壞探針。所以，掃描探針顯微鏡對(duì)樣品表面的粗糙度有較高的要求。
因?yàn)橄到y(tǒng)是通過檢測(cè)探針對(duì)樣品進(jìn)行掃描的時(shí)候運(yùn)動(dòng)軌跡來推知其表面形貌。所以，探針的幾何寬度、曲率半徑還有各向異性都會(huì)引起成像的失真（采用探針重建可以部分克服)。
通過技術(shù)人員給大家介紹掃描探針顯微鏡的應(yīng)用你了解了嗎？希望我們的介紹可以更好的幫到你們。如有疑問歡迎撥打熱線電話咨詢，我們會(huì)有專業(yè)的技術(shù)人員為您解答。
