今天本原納米一起給大家?guī)淼氖顷P(guān)于靜電力顯微鏡的工作原理，希望能給大家?guī)韼椭?，那么接下來一起看下吧?/p>
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靜電力顯微鏡（英文名：Electrostatic Force Microscopy,簡稱EFM）是一種利用測量探針和樣品的靜電相互作用，來表征樣品表面靜電勢能，電荷分布以及電荷輸運(yùn)的掃描探針顯微鏡。
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靜電力顯微鏡的工作原理和原子力顯微鏡差不多。關(guān)鍵部分都是由懸臂梁組成的探針。但是和原子力顯微鏡測量探針與樣品的范德華力不一樣，靜電力顯微鏡是通過測量兩者的庫侖相互作用來實(shí)現(xiàn)樣品成像。
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靜電力顯微鏡的工作原理：
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工作的時(shí)候，探針和樣品之間被加上工作電壓，懸臂梁探針受靜電力的作用，在樣品表面震蕩，但是不接觸樣品表面。范德華力隨著原子間距離r成1/r6衰減，因此原子力顯微鏡一定要確保探針和樣品表面幾乎接觸。相比之下，隨1/r2衰減的庫侖力較為長程，一般探針和樣品表面的工作距離為一百納米。假設(shè)樣品和探針之間的電壓為ΔV，等效電容為C，那么系統(tǒng)的總能量為：
用z來代表樣品表面的法線方向，那么探針?biāo)艿撵o電力可以表示為：
和原子力顯微鏡一樣，靜電力顯微鏡也能夠在液體環(huán)境中工作。
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綜上所述便是廣州本原納米儀器有限公司的小編給大家介紹的全部內(nèi)容，更多精彩資訊歡迎下期看點(diǎn)。
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