為了研究納米Ag薄膜厚度對導(dǎo)電及電磁屏蔽性能的影響,采用磁控 濺射法在PET非織造布上制備了不同厚度的納米結(jié)構(gòu)Ag薄膜,用原子力顯微鏡(ARM)分析不同厚度納米結(jié)構(gòu)Ag薄膜...
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作者
王鴻博,魏取福,高衛(wèi)東
期刊
真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報
年份
為了研究納米Ag薄膜厚度對導(dǎo)電及電磁屏蔽性能的影響,采用磁控 濺射法在PET非織造布上制備了不同厚度的納米結(jié)構(gòu)Ag薄膜,用原子力顯微鏡(ARM)分析不同厚度納米結(jié)構(gòu)Ag薄膜...
王鴻博,魏取福,高衛(wèi)東
真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報