本研究利用原子力顯微鏡(atomic force microscope,AFM)分別對Al2O3納米模板、云母片及數(shù)字光盤在固相及液相務(wù)件下進(jìn)行形貌掃描和云母片上的力 - 距離曲線測量.實(shí)驗(yàn)結(jié)...
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作者
張?zhí)毂?黨國全,關(guān)一夫
期刊
電子顯微學(xué)報(bào)
年份
本研究利用原子力顯微鏡(atomic force microscope,AFM)分別對Al2O3納米模板、云母片及數(shù)字光盤在固相及液相務(wù)件下進(jìn)行形貌掃描和云母片上的力 - 距離曲線測量.實(shí)驗(yàn)結(jié)...
張?zhí)毂?黨國全,關(guān)一夫
電子顯微學(xué)報(bào)