利用電子束真空蒸發(fā)方法制備了厚度100nm的Ni80Fe20薄膜,研究了磁場退火溫度對薄膜磁疇結(jié)構(gòu)
的影響。利用振動樣品磁強(qiáng)計測量了磁滯回線,利用磁力顯微鏡觀察了薄膜的表面形貌和磁疇結(jié)構(gòu)。結(jié)果表明:磁疇結(jié)構(gòu)為明顯的條狀疇,磁疇寬度最大值約為860nm;隨著磁場退火溫度的升高,磁疇取向趨于沿垂直膜面方向,退火溫度為600℃時,沿著主疇的疇壁形成了細(xì)小的橫向細(xì)疇結(jié)構(gòu)。
論文下載
作者
陳森;張師平;吳平;徐建;向勇
期刊
實(shí)驗(yàn)技術(shù)與管理
年份