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利用射頻磁控濺射法在室溫下沉積了GST 相變薄膜,利用XRD、AFM 對其結(jié)構(gòu)進(jìn)行表征,原位XRD 及DSC 測試確定其結(jié)晶溫度.( 原位) XRD 測試表明,室溫下沉積的GST 薄膜為非晶態(tài),且在室溫~375 ℃溫度范圍內(nèi),樣品經(jīng)歷了非晶態(tài)→立方晶態(tài)→六方晶態(tài)相轉(zhuǎn)變; 通過原位XRD 和DSC 測試確定的GST 薄膜的結(jié)晶溫度一致,為~150 ℃.

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作者

劉巧麗;劉軍偉;孟繁強(qiáng);王璐;李廷取.

期刊

吉林化工學(xué)院學(xué)報,33,9,41-44(2016)

年份