靜電力顯微鏡與磁力顯微鏡（MFM）相似卻又不同的是，靜電力顯微鏡主要是可以檢測出樣品的表面電勢、電場分布、薄膜的介電常數(shù)和沉積電荷等相關信息。具體使用原理是什么呢？本原的小編和大家分享一下吧~具體內(nèi)容如下：
靜電力顯微鏡主要是利用測量探針與樣品的靜電之間相互作用，來表征樣品表面靜電勢能，電荷分布以及電荷輸運的掃描探針顯微鏡。掃描式電場力顯微鏡利用提升操作功能，由于靜電作用屬于長程作用力,因此利用靜電力顯微鏡研究樣品電特性采用Liftmode模式測量,以減小表面形貌的影響。每條掃描線都進行兩次掃描:首先，形貌測量是采用輕敲模式獲得;然后針尖提起一定高度第二次掃描，掃描過程中保持針尖與樣品間距恒定來獲得電性質(zhì)。這種測量方式雖然將樣品形貌特征與電場梯度分離開來，但在納米級測量中，由于二次定位產(chǎn)生的誤差(非線性誤差)會嚴重影響測量結(jié)果,從而很難獲得真實的圖像信息。因此，利用靜電力顯微鏡一次掃描同時測量樣品表面形貌和樣品表面電性質(zhì)的技術受到了廣泛的重視。1990年,BDTeris等人利用EFM測量了絕緣體表面的局部電荷,并有效的降低了表面形貌對測量結(jié)果的影響。
靜電力顯微鏡主要采用的是導電探針以抬起模式進行掃描。
綜上所述就是廣州本原納米儀器有限公司的小編和大家分享的關于靜電力顯微鏡的使用原理，希望對大家有用。
