原子力顯微鏡有三種工作成像模式，分別是接觸模式、輕敲模式以及非接觸模式。具體內(nèi)容請跟本原的小編一起來看一下。
一、接觸模式
靜態(tài)模式時，以靜態(tài)探針偏轉(zhuǎn)為反饋信號。因為靜態(tài)信號的測試與噪音和偏移成正比，低硬度探針用來增強外偏轉(zhuǎn)信號。由于探針與樣品的表面非常接近，非常強的吸引力容易導致探針切入樣品表面。所以靜態(tài)原子力顯微鏡幾乎都用在總使用力為排斥力的情況。而這種技術就是接觸模式。在接觸模式中，掃描過程中需要保持探針偏轉(zhuǎn)不變，以此來讓探針和樣品表面的作用力保持恒定。
二、輕敲模式
絕大部分樣品表面正常情況下都會有一層彎曲液面，所以非接觸模式下使探針盡可能的靠近樣品表面，以此來測試短程力，但是會出現(xiàn)探針極易粘貼于樣品表面的問題；為了避免這個問題，就研究出間歇接觸模式、輕敲模式或AC模式。在輕敲模式中，懸臂通過類似于非接觸下的裝載在探針上的微小的壓電元件做來上下振動，頻率在其共振頻率附近，但是振幅遠遠＞10納米，處于100~200納米之間。輕敲模式在一定程度上降低了接觸模式對樣品和探針的損傷，以溫和的形式來成像固定的磷脂雙分子層和吸附的單個高分子鏈。在合適的掃描條件下，0.4納米厚的合成聚合物電解質(zhì)在幾小時內(nèi)可以讓單分子實驗保持穩(wěn)定。
以上就是廣州本原納米儀器有限公司的小編和大家分享的原子力顯微鏡的成像模式中的接觸模式和輕敲模式，那么非接觸模式就留著下期分享吧~
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