? ? ?AFM探測(cè)到的原子力由兩種主要成分組成：一種是吸引力即范德瓦耳斯力；另外一種是電子云重疊而引起的排斥相互作用。
? ? ?AFM原子力顯微鏡掃描的時(shí)間較短，如果掃描一幅圖像需要十多分鐘，那么周圍的點(diǎn)干擾，光干擾以及震動(dòng)，溫度的變化等因素會(huì)直接影響到圖像的準(zhǔn)確性及完整性。
AFM的針尖是整個(gè)儀器最脆弱的部分，一碰即斷，所以應(yīng)該防止一切物體與針尖直接接觸，實(shí)驗(yàn)過程中，若實(shí)驗(yàn)采用的是接觸模式，周圍環(huán)境的震動(dòng)會(huì)影響到圖形的測(cè)量結(jié)果，因此需要盡量保持實(shí)驗(yàn)桌的穩(wěn)定，否則會(huì)破壞圖形。
? ? AFM原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)
1、具有原子級(jí)的高分辨率，也就是可以分辨出單個(gè)原子，且放大倍率連續(xù)可調(diào)（幾百倍-上千倍）；與傳統(tǒng)的電子顯微鏡，特別是與掃描電子顯微鏡相比，原子力顯微鏡具有非常高的橫向分辨率（0.1-0.2nm）和縱向分辨率（0.01nm）。
2、能夠?qū)崟r(shí)的觀測(cè)表面的三維立體圖像，這種實(shí)時(shí)觀測(cè)的性能可以用于表面擴(kuò)散等物理化學(xué)過程的監(jiān)視及檢測(cè)。
3、可以在真空，大氣，常溫等不同的環(huán)境下進(jìn)行工作，甚至可以將樣品浸在水和其他溶液中，并且不需要特別的制樣技術(shù)。探測(cè)的過程中不會(huì)對(duì)樣品造成損傷。可以對(duì)導(dǎo)體，半導(dǎo)體，絕緣體等多種樣品成像，可用于各種表面膜的實(shí)時(shí)觀測(cè)。
4、不需要高真空的必要工作條件，且體積小，成本低，性價(jià)比高，遠(yuǎn)遠(yuǎn)低于一般的掃描電鏡。
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