? ? ?今天小編主要帶大家了解下原子力顯微鏡的結(jié)構(gòu)，下面我們一起來看一下。在原子力顯微鏡（簡稱AFM）的系統(tǒng)中，可以分為三個(gè)部分：力檢測部分，位置檢測部分，反饋系統(tǒng)。下面我們來具體了解下。
?? ?1、力檢測部分
?? ?在AFM的系統(tǒng)中，所要檢測的力是原子跟原子間的范德華力。因此在AFM的系統(tǒng)中是使用微小懸臂來檢測原子之間力的變化量。一般情況下，微懸臂通常是由一個(gè)大約100~500μm長以及約500nm~5μm厚的硅片或者是氮化硅片制成的。微懸臂頂端有一個(gè)非常尖銳的針尖，主要是用來檢測樣品與針尖之間的相互作用力。這個(gè)微懸臂是有一定的規(guī)格的，像：長度、寬度、彈性系數(shù)以及針尖的形狀，而選擇這些規(guī)格的主要是依據(jù)是：根據(jù)檢測樣品的特性，以及不同的操作模式，來選擇不同類型的探針。
?? ?2、位置檢測部分
?? ?在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，當(dāng)探針針尖與樣品的表面之間產(chǎn)生相互作用之后，會(huì)使得懸臂擺動(dòng)，當(dāng)激光照射在微懸臂末端的時(shí)候，其反射光的位置也會(huì)因?yàn)閼冶蹟[動(dòng)而有所改變，這就造成偏移量的產(chǎn)生。在整個(gè)系統(tǒng)中是依靠激光光斑位置檢測器把偏移量記錄下并且轉(zhuǎn)換成電的信號，以供SPM控制器作信號處理。
?? ?3、反饋系統(tǒng)
?? ?在原子力顯微鏡的系統(tǒng)中，將信號經(jīng)過由激光檢測器取入后，反饋系統(tǒng)中會(huì)把這個(gè)信號當(dāng)作反饋信號，作為內(nèi)部的調(diào)整信號，并且驅(qū)使通常由壓電陶瓷管制作的掃描器做一定的移動(dòng)，以維持樣品跟探針針尖之間的作用力。
?? ?今天的分享就先到這了，想要了解更多原子力顯微鏡的信息，歡迎關(guān)注廣州本原納米儀器有限公司，我們下期見。
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