首先，磁力顯微鏡（MFM）屬于原子力顯微鏡，它是通過控制磁性探針來掃描磁性樣品，在樣品的表面逐行掃描，利用抬起模式進行二次成像。（抬起模式：此工作模式可以分為兩個階段，一是和普通原子力顯微鏡形貌成像相同，在探針和樣品間距1nm以內成像，然后將探針抬起并且一直保持相同的距離，在進行第二次掃描，這一掃描過程可以對一些相對微弱但是作用程比較長的作用力進行檢測，比如磁力或者靜電力。）
? ? ?其次磁力顯微鏡與其他掃描探針顯微鏡間的區(qū)別在于，在磁力顯微鏡中，作用在磁體與同一極之間的相反極之間的吸引力排斥效應（磁偶極-偶極相互作用和不利用），懸臂到坡莫合金或鈷系的磁性材料沉積在其使用通過所獲得的材料 。能夠通過杠桿振動的相位差來檢測磁性吸引與排斥作用，且通過磁探針與樣品磁場的作用引起的懸臂振動的相變，能夠反映出磁力梯度的分布。
? ? ?磁力顯微鏡先是使用DFM（x掃描）測量表面的形狀信號，在返回同一行，以x接觸掃描所存儲的表面形狀為非接觸狀態(tài)，把探針分開一定的距離，（第二次掃描）是以追蹤該表面形狀通過測量因為磁力引起的相位變化，能夠一直根據表面形狀來確定同等高度處的磁力分布。屬于探針顯微鏡一類中較困難的類別是測量從材料表面泄漏的磁通，因為原子力的影響在樣品表面附近增加。而漏磁通的檢測靈敏度主要是取決于探頭的Q值與曲率半徑。
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