討論了掃描探針顯微鏡(SPM) 的應(yīng)用領(lǐng)域和SPM 的發(fā)展現(xiàn)狀,重點(diǎn)探討了國產(chǎn)SPM 應(yīng)用于信息產(chǎn)業(yè)、能源產(chǎn)業(yè)以及航空航天等工業(yè)領(lǐng)域中高新技術(shù)產(chǎn)品質(zhì)量檢測的方法、存在的問題、以及應(yīng)用的前景.
論文下載
作者
戴長春,黃貴珍,白春禮張新文,施倪承.
期刊
物理,26(4),366-370(1997)
年份