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采用反應磁控濺射法在Si(111)襯底上沉積了AlN 薄膜。XRD 分析表明,在5 種溫度下,AlN 均以(100)
面取向,襯底溫度的提高有利于薄膜結(jié)晶性的改善,在600℃以上時AlN 中Al—N0 鍵斷裂,僅出現(xiàn)(100)衍射峰。
AFM 分析顯示,在600℃時平均晶粒尺寸90 nm,Z 軸最高突起僅為23 nm。

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作者

王忠良,劉橋.

期刊

電子元件與材料,24(7),47-49(2005)

年份