利用水熱法制備了銳鈦礦TiO2納米線,用X射線衍射儀(XRD)、掃描電子顯微鏡(SEM)和原子力顯微鏡(AFM)對(duì)TiO2納米線的形貌、成份進(jìn)行了分析表征。在進(jìn)行AFM觀測(cè)時(shí),采用一種簡(jiǎn)單易行的方法將TiO2納米線固定在ITO玻璃襯底表面,解決了AFM掃描過程中樣品不能穩(wěn)定吸附在襯底上的問題。經(jīng)過適當(dāng)改進(jìn),該方法同樣適用于其他粉末狀納米材料的原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡(STM)研究。
論文下載
作者
降中杰,牛巧利,許迪,錢麗萍,鄧文禮.
期刊
納米加工工藝
年份