NanoSensors原子力探針/標樣
NanoSensors由原IBM公司的納米技術(shù)專家Oladf Wolter博士于1991年創(chuàng)建。NanoSensors公司是世界上重要的面對全球提供高品質(zhì)原子力AFM探針的廠家。
NanoSensors出產(chǎn)的針尖曲率半徑小于10nm的原子力AFM硅探針，對世界上許多重大的科學成果貢獻良多。在多年間，NanoSensors不斷創(chuàng)新技術(shù)，擴展了AFM探針的種類，并獲得多個國際獎項。
2002年，NanoSensors加入瑞士的NanoWorld集團，繼續(xù)堅持為全球研究者提供最高品質(zhì)的原子力探針。
?進入NanoSensors官方網(wǎng)站
NanoSensors常用的產(chǎn)品
PPP-NCHR
輕敲模式/非接觸模式探針，每個基片有一個長方形懸臂，共振頻率330kHz，彈性系數(shù)42N/m，針尖曲率半徑<10nm，背面鍍鋁反射層。
PPP-CONTR
接觸模式探針，每個基片有一個長方形懸臂，共振頻率13kHz，彈性系數(shù)0.2N/m，針尖曲率半徑<10nm，背面鍍鋁反射層。
PPP-MFMR
用于磁力顯微鏡測量，每個基片有一個長方形懸臂，共振頻率75kHz，彈性系數(shù)2.8N/m，針尖曲率半徑<50nm，針尖鍍硬磁性材料鍍層。
NanoSensors產(chǎn)品概覽
PointProbe Plus (PPP)系列——常用探針
PointProbe Plus系列探針為NanoSensors的最被廣泛使用的探針，適用于大部分的應(yīng)用及商品化的AFM。
PointProbe Plus系列探針的針尖典型曲率半徑為小于7nm，可實現(xiàn)高分辨率的應(yīng)用。整個系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。
SuperSharp Silicon (SSS)系列——超尖探針
SuperSharp Silicon系列探針使用特別的針尖制作技術(shù)生產(chǎn)，專門為超高分辨的成像所設(shè)計。
SuperSharp Silicon系列探針的針尖典型曲率半徑為小于2nm，實現(xiàn)超高分辨率的應(yīng)用。整個系列保證了高品質(zhì)及高穩(wěn)定性。
High Aspect Ratio Probes (AR5/AR5T/AR10/AR10T)系列——高長徑比探針
AR系列探針專門為測量具有大長徑比或垂直臺階結(jié)構(gòu)的樣品而設(shè)計。
AR系列探針具有接近垂直的針尖，總體針尖長度達到10-15um，針尖的曲率半徑小于5度（AR10小于2.8度）。
Diamond Coated PointProbe Plus (DT/CDT)系列——金剛石鍍層探針
DT(金剛石)和CDT(導(dǎo)電金剛石)系列探針適用于針尖與樣品之間需要大接觸力的情況，同樣也應(yīng)用于摩擦力測量、樣品彈性測量等。
MFM——磁力顯微鏡探針
多種規(guī)格（硬磁或軟磁）的磁力顯微鏡探針專門為不同的材料及應(yīng)用而設(shè)計。所有探針的磁性鍍層，均具有優(yōu)越的穩(wěn)定性。
Carbon Nanotube (CNT)系列——碳納米管探針
Carbon Nanotube探針是專門為需要超高分辨率、高速掃描及弱探針-樣品作用力的應(yīng)用而設(shè)計的。
碳納米管探針使用化學沉積的方法，在PPP系列針尖的最尖端處，生長出碳納米管，從而具有最小的針尖曲率半徑、超高的長徑比及極佳的耐磨性。CNT系列在NanoSensors的全部探針中，能獲得最高的分辨率。
AdvancedTEC (ATEC)系列——可視化探針
AdvancedTEC系列探針，在懸臂的最邊緣處具有四面體形狀的針尖。這種獨有的技術(shù)使得ATEC系列探針可以從上方觀察到針尖的探針，從而使得用戶可以獲得精確的針尖-樣品定位。
Plateau (PL)系列
Plateau系列探針，使用離子束切割技術(shù)，將傳統(tǒng)錐形的針尖弄鈍，在針尖處形成一個直徑為1.8μm的圓形平臺，為用戶的特殊應(yīng)用提供了個性化的探針。
Transfer Standards /Calibration Standards 標準樣品
NanoSensors提供的高精度標準樣品包括：
- 二維正交標準樣品：周期分別為100nm、200nm和300nm。
- 高度標準樣品：臺階高度為8nm。
- 粗糙度標準樣品：100um以內(nèi)的峰峰值小于10nm。
