反饋控制是原子力顯微鏡系統(tǒng)的核心工作機(jī)制，在工作過程中，通過探針，可以得到探針與樣品相互作用的強(qiáng)度，從而電壓受到改變，該電壓是加在樣品掃描器垂直方向的，會(huì)造成樣品伸縮，調(diào)節(jié)探針和被測(cè)樣品間的距離。反過來(lái)控制探針一樣品相互作用的強(qiáng)度，實(shí)現(xiàn)反饋控制。原子力顯微鏡系統(tǒng)采用的是數(shù)字反饋控制回路，用戶在控制軟件的參數(shù)工具欄時(shí)，可以通過參考電流、積分增益和比例增益幾個(gè)參數(shù)的設(shè)置來(lái)控制該反饋回路的特性。下面一起來(lái)看看原子力顯微鏡有哪些優(yōu)缺點(diǎn)。
一、優(yōu)點(diǎn)：
與掃描電子顯微鏡相比，原子力顯微鏡的優(yōu)點(diǎn)有很多。
?、匐娮语@微鏡只提供二維圖像，而AFM提供的則是真正的三維表面圖；
?、谠僬逜FM無(wú)需對(duì)樣品進(jìn)行任何的特殊處理，比如鍍銅或碳，如果經(jīng)過處理，那么就會(huì)對(duì)樣品造成不可逆轉(zhuǎn)的傷害；
③電子顯微鏡需要在高真空條件下運(yùn)行，而原子力顯微鏡不管是在常壓下，還是在液體環(huán)境下，都可以很好的運(yùn)行。這樣對(duì)研究生物宏觀分子，或者是活的生物組織都十分的有利。因?yàn)榭梢杂^測(cè)非導(dǎo)電樣品，所以適用性更為廣泛。當(dāng)前在科學(xué)研究和工業(yè)界廣泛使用的掃描力顯微鏡，其基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡。
二、缺點(diǎn)：
和掃描電子顯微鏡（SEM）相比，AFM的缺點(diǎn)在于成像范圍太小，速度慢，受探頭的影響太大。
綜上所述就是廣州本原納米儀器有限公司的小編和大家分享的原子力顯微鏡的優(yōu)缺點(diǎn)，希望對(duì)大家有幫助。
