使用磁控濺射制備Ag和SiO2相間的多層膜,系統(tǒng)研究了退火對復(fù)合薄膜形貌和光學(xué)特性的影 響。實(shí)驗(yàn)發(fā)現(xiàn)退火時間越長,Ag顆粒直徑越大,吸收譜峰位相對較短的退火時間有紅移現(xiàn)象,并且吸收譜峰比較寬,比較強(qiáng)。在退火時間足夠長的情況下,隨著每 層SiO2厚度的減小,Ag顆粒直徑也減小,吸收峰強(qiáng)度變小,峰寬變窄,峰位有藍(lán)移現(xiàn)象。我們做了大量實(shí)驗(yàn),總結(jié)出了退火時間的計算公式。薄膜經(jīng)過合適的 退火時間,放置20d后發(fā)現(xiàn)出現(xiàn)小平面結(jié)構(gòu),Ag顆粒分裂,吸收譜峰寬變窄,吸收峰位藍(lán)移。不同退火溫度下的吸收譜表明500℃是一個比較理想的退火溫 度。
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汪壯兵,趙亞麗,粱齊,明海,許小亮
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