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介紹一種新型表面黏著力可控的表面的制備方法,通過局部陽極氧化結合離子液體離子交換技術,在納米尺度下制備復合圖案化織構表面以及測量其表面力學特征。采用基于導電原子力顯微的局部陽極氧化技術制備出各種形狀和尺寸的納米二氧化硅圖案陣列,利用自組裝技術對織構化圖案進行分子自組裝。通過對表面離子液體分子自組裝薄膜的表面陰離子進行離子交換就可以對表面黏著力進行控制。另外,采用新穎的膠體探針技術對實際的復合表面的黏著力學進行表征。表征參數數據表明該實驗方法能普遍用于半導體基底表面改性。