? ? ? ?靜電力顯微鏡在接觸模式下，探針針尖與樣品之間的相互作用力是兩者相互接觸的原子中電子間存在的庫(kù)侖排斥力以及探針針尖和樣品間產(chǎn)生的靜電力，但是因?yàn)榻佑|模式下的原子力具有著主要作用，可以控制探針的針尖跟樣品之間原子力恒定測(cè)量樣品的表面形貌。同時(shí)，在探針和樣品間施加交流可以調(diào)整電壓信號(hào)，微懸臂開(kāi)始受迫振動(dòng)，也就是說(shuō)，靜電力顯微鏡的探針在接觸模式下仍然在小振幅振動(dòng)的。由于這種振動(dòng)信號(hào)是可以測(cè)量的，所以即使在很強(qiáng)的原子力的作用下，使用鎖相放大技術(shù)( Lock-in Techniques )仍然能夠檢測(cè)到微弱的靜電力信號(hào)。如果添加到探針針尖上的電壓信號(hào)可調(diào)來(lái)控制探針針尖上的電荷量，繼而在針探針尖及樣品間產(chǎn)生附加可調(diào)的靜電力，就能夠同時(shí)得到樣品的表面形貌以及其他靜電作用的信息，比如表面電勢(shì)或者表面電荷密度。
? ? ? 這種測(cè)量模式能夠降低表面形貌對(duì)電場(chǎng)測(cè)量的影響，可以獲得較為穩(wěn)定，高分辨率形貌與樣品電性質(zhì)圖像，但是因?yàn)樘结樤跇悠繁砻嫔系囊苿?dòng)以及探針針尖表面間的粘附力，有可能會(huì)使樣品產(chǎn)生較大的變形，同時(shí)表面的摩擦力也可能對(duì)探針針尖造成較大的損害，從而在圖像數(shù)據(jù)中可能產(chǎn)生假象。
? ? ?S Watanabe等人利用表面電荷理論計(jì)算了懸臂探針針尖和樣品間的靜電力以及其作用力梯度。因?yàn)殪o電力屬于長(zhǎng)程作用力，不僅作用于針尖，而且極大的作用于懸臂部分，所以接觸式的靜電力測(cè)量受測(cè)量探針形狀的影響較大，相反把針尖距離樣品表面50~200nm處，采用非接觸式的靜電力梯度測(cè)量探針的形狀就可以忽略不計(jì)。
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