通過改進的水浴自組裝技術,制備出由氧化石墨烯納米片組成的氧化石墨烯(Graphene oxide, GO)薄膜,對該薄膜進行γ 射線輻照后采用掃描電子顯微鏡(SEM)、X 射線衍射光譜(XRD)對輻照前后的薄膜進行表征,分析輻照對GO薄膜的改性作用。結果表明,輻照后GO薄膜的層間距由0.94 nm 減小到0.80 nm,薄膜中GO 納米片的平均厚度從1.69 nm 減小到0.86 nm,證明了γ 射線對GO 薄膜良好的還原效應,使GO納米片的層間官能團減少并導致了層間距和厚度減小。本文還探討了γ 射線輻照對GO 薄膜的還原機理。
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作者
孫寶駿,吳凡,許廣昀,陳磊,徐志偉,趙亞娣,王航,張斌
期刊
輻射研究與輻射工藝學報
年份