? ? ?AFM原子力顯微鏡共有三種不同的工作模式，接觸模式，非接觸模式，以及共振模式或者輕敲模式。今天小編主要為大家介紹下接觸模式。
? ? ?接觸模式包括恒力模式和恒高模式。在恒力模式中過反饋線圈調(diào)節(jié)微懸臂的偏轉(zhuǎn)程度不變，從而保證樣品與針尖之間的作用力恒定，當沿著X，Y軸方向掃描的時候，記錄Z方向上掃描器的移動情況來得到樣品的表面輪廓形貌圖像。這種模式由于可以通過改變樣品的上下高度來調(diào)節(jié)針尖與樣品表面之間的距離，這樣樣品的高度值較為準確，適用于物質(zhì)的表面分析。在恒高模式中，保持樣品和針尖的相對高度不變，直接測量出微懸臂的偏轉(zhuǎn)情況，即掃描器在Z方向上的移動情況來獲得圖像。這種模式對樣品的高度變化比較敏感，可以實現(xiàn)樣品的快速掃描，適用于對分子，原子的圖像觀察。接觸模式的特點是探針與樣品表面緊密接觸并在表面上滑動。探針和樣品間的相互作用力是兩者相接觸原子間的排斥力，接觸模式通常就是靠這種排斥力來獲得穩(wěn)定，高分辨樣品表面形貌圖像。但是由于針尖在樣品表面上滑動及樣品表面與針尖的粘附力，可能使得針尖受到損害，樣品產(chǎn)生變形，故對不易變形的低彈性樣品存在缺點。
? ? ?以上就是今天小編為大家介紹的AFM原子力顯微鏡工作模式中的接觸模式，希望能給大家?guī)硪恍椭?，想要了解更多AFM原子力顯微鏡的信息，請關注我們本原的官方網(wǎng)站。
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