上期文章中納米儀器的小編已經(jīng)給大家介紹了關于掃描探針顯微鏡的應用其中一部分，那么接下來我們繼續(xù)給大家介紹相關應用，一起來看下吧。
任何事物都不是十全十美的一樣，掃描探針顯微鏡也有令人遺憾的地方。因為它的工作原理是控制具有一定質(zhì)量的探針進行掃描成像，所以掃描速度受到限制，測試效率比較其他顯微技術低；因為壓電效應在保障定位精度前提下運動范圍很小（很難突破100μm量級），但是機械調(diào)節(jié)精度又沒有辦法與之銜接，因此不可以做到像電子顯微鏡的大范圍連續(xù)變焦，定位與尋找特征結構比較困難；
掃描探針顯微鏡中最為廣泛使用管狀壓電掃描器的垂直方向伸縮范圍比平面掃描范圍通常要小一個數(shù)量級，掃描的時候掃描器隨樣品表面起伏而伸縮，假如被測樣品表面的起伏超出了掃描器的伸縮范圍，那么就會導致系統(tǒng)無法正常甚至損壞探針。所以，掃描探針顯微鏡對樣品表面的粗糙度有較高的要求。
因為系統(tǒng)是通過檢測探針對樣品進行掃描的時候運動軌跡來推知其表面形貌。所以，探針的幾何寬度、曲率半徑還有各向異性都會引起成像的失真（采用探針重建可以部分克服)。
通過技術人員給大家介紹掃描探針顯微鏡的應用你了解了嗎？希望我們的介紹可以更好的幫到你們。如有疑問歡迎撥打熱線電話咨詢，我們會有專業(yè)的技術人員為您解答。
