今天本原納米一起給大家?guī)?lái)的是關(guān)于靜電力顯微鏡的工作原理，希望能給大家?guī)?lái)幫助，那么接下來(lái)一起看下吧。
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靜電力顯微鏡（英文名：Electrostatic Force Microscopy,簡(jiǎn)稱(chēng)EFM）是一種利用測(cè)量探針和樣品的靜電相互作用，來(lái)表征樣品表面靜電勢(shì)能，電荷分布以及電荷輸運(yùn)的掃描探針顯微鏡。
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靜電力顯微鏡的工作原理和原子力顯微鏡差不多。關(guān)鍵部分都是由懸臂梁組成的探針。但是和原子力顯微鏡測(cè)量探針與樣品的范德華力不一樣，靜電力顯微鏡是通過(guò)測(cè)量?jī)烧叩膸?kù)侖相互作用來(lái)實(shí)現(xiàn)樣品成像。
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靜電力顯微鏡的工作原理：
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工作的時(shí)候，探針和樣品之間被加上工作電壓，懸臂梁探針受靜電力的作用，在樣品表面震蕩，但是不接觸樣品表面。范德華力隨著原子間距離r成1/r6衰減，因此原子力顯微鏡一定要確保探針和樣品表面幾乎接觸。相比之下，隨1/r2衰減的庫(kù)侖力較為長(zhǎng)程，一般探針和樣品表面的工作距離為一百納米。假設(shè)樣品和探針之間的電壓為ΔV，等效電容為C，那么系統(tǒng)的總能量為：
用z來(lái)代表樣品表面的法線(xiàn)方向，那么探針?biāo)艿撵o電力可以表示為：
和原子力顯微鏡一樣，靜電力顯微鏡也能夠在液體環(huán)境中工作。
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綜上所述便是廣州本原納米儀器有限公司的小編給大家介紹的全部?jī)?nèi)容，更多精彩資訊歡迎下期看點(diǎn)。
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