今天本源的小編和大家分享的是原子力顯微鏡三種模式的優(yōu)缺點，具體內(nèi)容如下：
第一：接觸模式：
優(yōu)點：其掃描速度較快，同時也是唯一能夠獲得“原子分辨率”圖像的AFM，垂直方向上有明顯變化的質(zhì)硬樣品，用Contact Mode掃描成像也是可以的。
缺點：橫向力影響圖像質(zhì)量。在空氣中，因為樣品表面吸附液層的毛細作用，使針尖與樣品之間有很大的粘著力。橫向力與粘著力的合力會降低圖像空間分辨率，而且針尖刮擦樣品會損壞像生物樣品、聚合體等軟質(zhì)樣品。
第二：非接觸模式：
優(yōu)點：樣品表面沒有作用力。
缺點：由于針尖與樣品分離，橫向分辨率低；為了避免接觸吸附層而導(dǎo)致針尖膠粘，掃描速度比Contact Mode AFM低。通常非常怕水的樣品用的多，要求較高，比如必須要很薄的吸附液層，否則針尖會因為太厚而陷入液層，引起反饋不穩(wěn)，刮擦樣品。由于上述缺點，嚴重限制了on-contact Mode的使用。
第三：敲擊模式：
優(yōu)點：使橫向力的影響得到了消除。并且由吸附液層引起的力也得到了降低，圖像分辨率高，適合觀測軟、易碎、或膠粘性樣品，對其表面不會有其他的損傷。
缺點：與Contact Mode AFM的掃描速度相比較而言，要慢一點。
綜上所述就是廣州本原納米儀器有限公司的小編和大家分享的原子力顯微鏡三種模式的優(yōu)缺點，希望可以幫助大家了解原子力顯微鏡，從而在使用時更加得心應(yīng)手。如果有需要，撥打電話咨詢我們。
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