首先，磁力顯微鏡（MFM）屬于原子力顯微鏡，它是通過(guò)控制磁性探針來(lái)掃描磁性樣品，在樣品的表面逐行掃描，利用抬起模式進(jìn)行二次成像。（抬起模式：此工作模式可以分為兩個(gè)階段，一是和普通原子力顯微鏡形貌成像相同，在探針和樣品間距1nm以?xún)?nèi)成像，然后將探針抬起并且一直保持相同的距離，在進(jìn)行第二次掃描，這一掃描過(guò)程可以對(duì)一些相對(duì)微弱但是作用程比較長(zhǎng)的作用力進(jìn)行檢測(cè)，比如磁力或者靜電力。）
? ? ?其次磁力顯微鏡與其他掃描探針顯微鏡間的區(qū)別在于，在磁力顯微鏡中，作用在磁體與同一極之間的相反極之間的吸引力排斥效應(yīng)（磁偶極-偶極相互作用和不利用），懸臂到坡莫合金或鈷系的磁性材料沉積在其使用通過(guò)所獲得的材料 。能夠通過(guò)杠桿振動(dòng)的相位差來(lái)檢測(cè)磁性吸引與排斥作用，且通過(guò)磁探針與樣品磁場(chǎng)的作用引起的懸臂振動(dòng)的相變，能夠反映出磁力梯度的分布。
? ? ?磁力顯微鏡先是使用DFM（x掃描）測(cè)量表面的形狀信號(hào)，在返回同一行，以x接觸掃描所存儲(chǔ)的表面形狀為非接觸狀態(tài)，把探針?lè)珠_(kāi)一定的距離，（第二次掃描）是以追蹤該表面形狀通過(guò)測(cè)量因?yàn)榇帕σ鸬南辔蛔兓?，能夠一直根?jù)表面形狀來(lái)確定同等高度處的磁力分布。屬于探針顯微鏡一類(lèi)中較困難的類(lèi)別是測(cè)量從材料表面泄漏的磁通，因?yàn)樵恿Φ挠绊懺跇悠繁砻娓浇黾?。而漏磁通的檢測(cè)靈敏度主要是取決于探頭的Q值與曲率半徑。
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