AFM全稱(chēng)Atomic Force Microscope，也就是原子力顯微鏡，它是繼掃描隧道顯微鏡（Scanning Tunneling Microscope）之后發(fā)明的一款具有原子級(jí)高分辨的新型儀器，能夠在大氣還有液體環(huán)境下對(duì)各種材料以及樣品進(jìn)行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進(jìn)行探測(cè)，或者直接進(jìn)行納米操縱；目前已經(jīng)廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體領(lǐng)域、納米功能材料領(lǐng)域、生物領(lǐng)域、化工領(lǐng)域、食品領(lǐng)域、醫(yī)藥研究領(lǐng)域以及科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實(shí)驗(yàn)等領(lǐng)域當(dāng)中，成為納米科學(xué)研究的基本工具。
概述AFM原子力顯微鏡：
AFM原子力顯微鏡是由G.Binning在STM的基礎(chǔ)上于一九八六年發(fā)明的表面觀(guān)測(cè)儀器。
AFM=Atomic Force Microscope（原子力顯微鏡）。原子力顯微鏡和掃描隧道顯微鏡相比，因此可以觀(guān)測(cè)非導(dǎo)電樣品，所以具有更為廣泛的適用性。當(dāng)前在科學(xué)研究還有工業(yè)界廣泛運(yùn)用的掃描力顯微鏡（Scanning Force Microscope），它的基礎(chǔ)就是原子力顯微鏡。
AFM原子力顯微鏡的原理：
當(dāng)原子間距離減小到一定程度之后，原子間的作用力會(huì)快速上升。所以，由顯微探針受力的大小就能夠直接換算出樣品表面的高度，隨之獲取樣品表面形貌的信息。
?