介紹了原子力顯微鏡(AFM)的原理及特點(diǎn)。用AFM 對(duì)光盤(pán)上記錄信息用的凹坑結(jié)構(gòu)進(jìn)行了三維檢測(cè)。所得結(jié)論表明A F M 在信息存儲(chǔ)介質(zhì)檢測(cè)過(guò)程中具有獨(dú)特的優(yōu)勢(shì)。
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作者
劉萬(wàn)里,孫大許,馬強(qiáng),閆勇剛.
期刊
現(xiàn)代科學(xué)儀器,5,51-53(2005)
年份