?采用射頻等離子體技術(shù),以CH4和H2為反應(yīng)氣體,在單晶硅片和載玻玻璃片上成功制備出了高質(zhì)量的類金剛石薄膜.采用掃描電鏡、原子力顯微鏡、Raman光譜、紅外光譜、顯微硬度計(jì)表征了類金剛石薄膜的表面形貌、微觀結(jié)構(gòu)、光學(xué)性能和復(fù)合硬度.結(jié)果表明,制備出的類金剛石薄膜表面十分平整光滑,表面粗糙度極低,平均粗糙度Ra為0.492nm;薄膜中含有sp^2,sp^3雜化鍵,具有典型的類金剛石結(jié)構(gòu)特征;光學(xué)透過(guò)率比較高,薄膜的復(fù)合硬度可以高達(dá)507.3kgf/cm^2.
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作者
謝鵬,汪建華,王傳新,王升高,滿衛(wèi)東,熊禮威.
期刊
武漢工程大學(xué)學(xué)報(bào)
年份