利用恒電位電化學(xué)沉積方法在IT O 導(dǎo)電玻璃基底上制備了納米ZnO 薄膜, 并利用原子力 顯微鏡進(jìn)行了形貌表征。結(jié)果顯示, 當(dāng)沉積電壓為0. 8 V 時(shí), 經(jīng)過30 min 的沉積在基底上形成了由規(guī) 則排列的三角形ZnO 晶粒構(gòu)成的納米薄膜。對晶粒的形成機(jī)理進(jìn)行了初步的討論。
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作者
袁博;夏惠;王曉雄;徐永祥;李相銀
期刊
大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)
年份