利用低壓化學氣相沉積法(LPCVD),在單晶Si襯底上制備多晶Si薄膜。利用原子力顯微鏡觀察薄膜厚度和鍍膜溫度對多晶Si薄膜表面形貌的影響,并利用XRD研究退火溫度對多晶Si薄膜結晶性能的影響。結果表明:鍍膜溫度越高、薄膜越厚,薄膜的晶粒尺寸越大;退火溫度越高,薄膜的結晶越好
論文下載
作者
胡佳寶;何曉雄;楊旭
期刊
合肥工業(yè)大學學報
年份
利用低壓化學氣相沉積法(LPCVD),在單晶Si襯底上制備多晶Si薄膜。利用原子力顯微鏡觀察薄膜厚度和鍍膜溫度對多晶Si薄膜表面形貌的影響,并利用XRD研究退火溫度對多晶Si薄膜結晶性能的影響。結果表明:鍍膜溫度越高、薄膜越厚,薄膜的晶粒尺寸越大;退火溫度越高,薄膜的結晶越好
胡佳寶;何曉雄;楊旭
合肥工業(yè)大學學報